由于電勢誘發(fā)衰減（PID）會大大降低光伏系統(tǒng)的輸出功率，PID已經(jīng)成為太陽能行業(yè)關(guān)注的重要問題。PID認(rèn)證可以測量出太陽能發(fā)電廠中的太陽能光伏電池組件抵御環(huán)境條件的能力，某些條件可能會影響單個模塊的性能以及光伏系統(tǒng)的發(fā)電量。

一系列的測試先從基礎(chǔ)測試開始，其中包括最大功率測定、電致發(fā)光影像和接地連續(xù)性測試。此后，在不同的環(huán)境和不同的電壓級別/嚴(yán)酷程度下，施加電壓至模塊。最后，檢查模塊，并獲得它們對PID效應(yīng)的抵抗能力的測試結(jié)果。

據(jù)了解，在晶體硅光伏組件中，因雜散電流而導(dǎo)致的PID效應(yīng)有可能引起光伏系統(tǒng)性能的衰減，甚至高達(dá)30%的功率損耗。除了太陽能光伏電池本身的結(jié)構(gòu)之外，產(chǎn)生有害漏電電流的原因還包括單個光伏模塊的接地電壓。

在大多數(shù)不接地的光伏系統(tǒng)中，具有接地正電壓或負(fù)電壓的光伏模塊會產(chǎn)生PID效應(yīng)。PID效應(yīng)大多發(fā)生在接地負(fù)電壓條件下，而且高的系統(tǒng)電壓、高溫、高濕度會加速這一過程。